• 幅広い帯域 (SiC,GaN) の電源半導体の動的特性の信頼性があり,繰り返し測定できる.
• 測定した特徴には,オン,オフ,スイッチ,リバースリカバリー,ゲートチャージ,その他多くのものがあります.
• DUTとユーザの両方のテスト環境を設定する.
• 拡張可能でアップグレード可能な モジュール型プラットフォームで すべての電源装置をテストできます

標準的な測定ソリューションとして,PD1500Aは,広帯域半導体の信頼性があり,繰り返しできる測定を可能にします.プラットフォームは,ユーザーの安全とシステムの測定ハードウェアの保護を保証します.

繰り返し可能なDPT結果を保証する能力は,測定科学におけるKeysightの専門知識に基づいています.例として,高周波試験 (ギガヘルツ範囲),低漏れ (フェム・アンペア範囲)動力電源半導体特徴付けの課題を克服するために,Keysightはユニークに配置されています.

PD1500Aには,探査機補償,オフセット調整,偏差調整,および共通モードノイズ拒絶などの標準測定技術が含まれています.これらの技術は,革新的な測定トポロジーとレイアウトの中で利用されています.このシステムのために特別に開発された半自動校正ルーチン (AutoCal) は,システムゲインとオフセットエラーを修正します.システムでは,現在のシャントで誘導性寄生虫を補償するために,de-埋め込み技術も使用します.

JEDECは,マイクロ電子業界向けにオープンな標準と出版物を開発する世界リーダーです.JEDEC委員会は,幅広い技術のための標準の開発において業界をリードしています.

JEDEC委員会:JC-70 ワイドバンドギャップ パワー電子変換半導体
JEDEC規格は,電力半導体産業のためのWBG規格を提供する必要性を認識しました. 2017年9月,JC70 ワイドバンドギャップ パワー電子変換半導体委員会が,GAN JC70の両方のために形成されました.1およびSiC JC-70.2 各セクションには,信頼性及び資格手続き,データシートの要素及びパラメータ,および試験及び特徴付け方法に焦点を当てた3つの作業グループがある.

Keysightはこれらの標準の開発に積極的に参加しています.

JEDECがWBGデバイスのダイナミックテストを定義し続けると,いくつかの標準化テストが出現し始めています. Keysight PD1500A DPTは以下の主要なパフォーマンスパラメータを決定します:

• オンする特性
• 切断特性
• ダイナミックオン抵抗
• 動的電流と電圧
• 切り替え特性
• 逆回収
• ゲートチャージ
• 派生した出力特性